薄片钢芯:变压器通常采用硅钢材料的铁芯作为主磁路。这样可以使线圈中磁场更加集中,变压器更加紧凑。 电力变压器的铁芯在设计的时候必须保防止达到磁路饱和,有时需要在磁路中设计一些气隙减少饱和。 实际使用的变压器铁芯采用非常薄,电阻较大的硅钢片叠压而成。 这样可以减少每层涡流带来的损耗和产生的热量。 电力变压器和音频电路有相似之处。典型分层铁芯一般为E和I字母的形状,称作“EI变压器”。 这种铁芯的一个问题就是当断电之后铁芯中会保持剩磁,中山变压器综合测试系统。 当再次加电后,剩磁会造成铁芯暂时饱和。 对于一些容量**过数百瓦的变压器会造成的严重后果,如果没有采用限流电路,中山变压器综合测试系统,中山变压器综合测试系统,涌流可造成主熔断器熔断。 更严重的是,对于大型电力变压器,涌流可造成主绕组变形、损害。变压器容量(特性)现场测试仪是一种非常适合现场准确测量变压器 容量和型式的多功能仪表。中山变压器综合测试系统
单相空载测试单相空载测试项目通常用来测试单相变压器的空载损耗和空载电流百分比。也可用来对三相变压器进行逐相测试(主要用来检测被测变压器有没有单相故障)。在现场无三相电源的情况下,也需要用到这种试验方法。单相空载用仪器的A相电压和A相电流进行测试。如图所示,用一单相电源作为测试电源,火线接到测试仪的A相电流端子正端,黄钳子粗线接到A相电流端子的负端,细线接到A相电压端子Ua,红钳子粗线直接接到测试电源的零线,细线接到B相电压端子Ub,两把钳子分别夹到低压侧两个接线柱上。高压侧开路。中山变压器综合测试系统电压回路宽量限:电压较大可测量到 750V,不用切换档位即可保证精度。
变比测试仪功能:(1)该变压器变比测试仪自动产生幅值稳定、相位恒定的三相、两相、或单相标准电源。(2)不受变压器内部接线方式的约束,直接测量高、低压侧的电压比值及相角差。(3)速度快,一组数据的测试时间为几秒钟,且能在测试过程中转换分接开关,一气呵成完成一台变压器的所有分接位置的测量,19分接位置变压器的测试时间只需要10分钟的时间,较大提高工作效率。(4)变压器变比测试仪内部具有过流保护功能。(5)测试结果不受工频电源频率及幅值波动的影响。(6)尤其适用于特种变压器的变比及相位差测试。(7)全自动变比测试仪真正意义上的三相同时测量。(8)变压器变比测试仪具备RS232接口,方便生产厂家的测试自动化要求。
多功能变比测试仪使用接线:鼠标操作:左右旋转移动光标;按压的同时左右旋转鼠标,修改光标处的内容;菜单位置按压鼠标,执行操作。开机后,仪器显示的界面如图5.2所示。图中,右上角显示的是日期和时间;右下角显示的是系统菜单;左上显示的是设置好的参数(开机时调入的是默认参数)。(3)“测试设置”菜单绕组编号不能设置,由仪器自动按顺序累加产生。一个编号替代一个绕组,一个编号可以有很多组测试数据(不同的分接位置)。对应分接:输入铭牌标准高压和低压时对应的分接号。电压变比:输入铭牌标准高压和低压(无升压和降压时的电压)。每档比例:输入分接开关升压和降压的每档百分比,有1.25%、2.5%、3.0%、5.0%、7.5%、10.0%等可供选择。绕组变形测试应在解开变压器所有引线的前提下进行。
大部份的变压器均有固定的铁芯,其上绕有一次与二次的线圈。基于铁材的高导磁性,大部份磁通量局限在铁芯里,因此,两组线圈藉此可以获得相当高程度之磁耦合。在一些变压器中,线圈与铁芯二者间紧密地结合,其一次与二次电压的比值几乎与二者之线圈匝数比相同。因此,变压器之匝数比,一般可作为变压器升压或降压的参考指标。由于此项升压与降压的功能,使得变压器已成为现代化电力系统之一重要附属物,提升输电电压使得长途输送电力更为经济,至于降压变压器,它使得电力运用方面更加多元化,吾人可以如是说,倘无变压器,则现代工业实无法达到现况。变压器是利用电磁感应原理,从一个电路向另一个电路传递电能或传输信号的一种电器。肇庆电子变压器测量仪
测试值与计算值不符,接线组别与铭牌接线组别不符,可能是仪器损坏,也可能是变压器存在问题。中山变压器综合测试系统
性能特点:1.仪器采用交流220V低压电源,通过手动、自动两种模式对单相、三相变压器的AB、BC、CA绕组施加电流,测量变压器的短路阻抗与铭牌阻抗比较的误差百分比外,还可测量变压器的阻抗、电抗、电阻、电感等值方便用户数据对比,测试结果非常直观;2.仪器可单相测试,也可三相测试;可手动测试,也可自动测试;3.一次性接线,不用倒接测试线便可自动完成三相测试;4.不用外接调压器,便可对被测试品进行测量;5.仪器不显示阻抗误差百分比,还显示施加电压、施加电流、测量功率,短路阻抗、短路感抗、绕组电感、短路阻抗电压等值;6.零序阻抗适用于高压侧星形接线带中性点的变压器,仪器可同时测量零序阻抗、零序感抗、零序电阻、零序电感;7.仪器可采用内部电源及外部电源两种供电模式。中山变压器综合测试系统